Вебинар

«Анализ и моделирование частичных разрядов в изоляции высоковольтного оборудования и кабелях как случайного импульсного процесса»

К числу перспективных методов мониторинга высоковольтного оборудования относятся методы анализа разрядных процессов в изоляции. Физической основой большой группы этих методов являются частичные разряды (ЧР), т.е. микропробои, перекрывающие лишь небольшую часть изоляции. ЧР возникают в результате действия множества факторов: особенностей структуры изоляции, уровня напряжённости электрического поля, наличия неоднородностей в нём, температуры, изменений химического состава изоляции и ряда других. Это является важной предпосылкой того, что процесс возникновения ЧР с позиций теории вероятностей можно рассматривать как случайный импульсный процесс, а для математического анализа и моделирования частичных разрядов при диагностике высоковольтного оборудования  целесообразно применить соответствующий математический аппарат. Несмотря на очевидность этого, в научно-технической литературе отсутствует анализ статистических характеристик ЧР, которые наряду с традиционными, могут содержать диагностическую информацию о состоянии изоляции высоковольтных аппаратов.  Вебинар посвящён анализу наиболее важных статистических характеристик ЧР, особое внимание обращено на их диагностическую информативность и возможности автоматического аппаратного анализа.

В первой части вебинара рассмотрены аппаратные средства анализа статистических характеристик. В качестве примера представлено устройство для определения спектральной плотности ЧР-шума при диагностике однофазного автотрансформатора на базе системы HVPD Longshot компании «High Voltage Partial Discharge Ltd» (Великобритания).

Во второй части вебинара различные подходы к математическому моделированию взаимосвязи спектрального распределения g(ω) с параметрами частичных разрядов в диагностируемом диэлектрике и их Наиболее простым вариантом является предположение о полной независимости ЧР в диагностируемом аппарате, так что в разрядном процессе частичных разрядов с равной вероятностью участвуют все локальные области диэлектрика. Однако эксперименты показали, что модели, реализующие этот подход, не позволяют объяснить низкочастотный спад спектральной плотности. Было предположено, что это связано с принятой гипотезой о независимости ЧР. На основе экспериментальных исследований для учёта взаимодействия между отдельными ЧР была получена формула для плотности вероятности распределения интервалов времени, разделяющих два следующих друг за другом ЧР. Её применение позволило разработать математическую модель, которая содержит поправочный множитель, обусловливающий некоторый спад спектральной плотности в области низких частот. Дальнейшие исследования показали, что введённая поправка не исчерпывает вопроса о поведении спектральной плотности в области низких частот. Дело в том, что распределение количества ЧР по фазе воздействующего напряжения неравномерно. Максимальное количество ЧР наблюдается вблизи амплитуд воздействующего напряжения (90 и 270 град.). Таким образом, рассматриваемый шумовой процесс нельзя считать стационарным, поскольку его статистические характеристики являются функциями времени. Однако при диагностике высоковольтного оборудования под рабочим напряжением процесс можно отнести к периодически нестационарным. Показано, что модели, полученные с учётом этой особенности ЧР, наиболее адекватно отражают реальное физическое явление и их целесообразно использовать при диагностике высоковольтного оборудования электрошумовым методом.

В заключительной части вебинара приводятся примеры практического применения статистических характеристик ЧР для диагностики изоляции высоковольтных аппаратов.

Для кого вебинар: для энергетиков, электриков, представителей электромонтажных и  распределительных сетевых компаний.

Дата и время: 12 октября 2017 года в 11:00 по московскому времени.

Место проведения: онлайн (требуется доступ к Интернет с вашего компьютера).

Лектор: Вадим Анатольевич Шахнин, доктор технических наук, профессор, Владимирский государственный университет имени А. Г. и Н. Г. Столетовых.

---

Поделитесь ссылкой с друзьями и коллегами